邁克爾遜干涉儀，是1881年美國物理學(xué)家邁克爾遜和莫雷合作，為研究“以太”漂移而設(shè)計制造出來的精密光學(xué)儀器。它是利用分振幅法產(chǎn)生雙光束以實現(xiàn)干涉。通過調(diào)整該干涉儀，可以產(chǎn)生等厚干涉條紋，也可以產(chǎn)生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量，若觀察到干涉條紋移動一條，便是M2的動臂移動量為λ/2，等效于M1與M2之間的空氣膜厚度改變λ/2。在近代物理和近代計量技術(shù)中，如在光譜線精細(xì)結(jié)構(gòu)的研究和用光波標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)米尺等實驗中都有著重要的應(yīng)用。利用該儀器的原理，研制出多種**干涉儀。 [1]高精度：雙頻激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級別的測量精度，適用于微小位移的檢測。太倉購買雙頻激光干涉儀性價比

這種無規(guī)則的變化較難通過觸發(fā)電平的自動調(diào)整來補償，因而限制了單頻干涉儀的應(yīng)用范圍，只有設(shè)法用交流測量系統(tǒng)代替直流測量系統(tǒng)才能從根本上克服單頻激光干涉儀的這一弱點。而雙頻激光干涉儀正好克服了這一弱點，它是在單頻激光干涉儀的基礎(chǔ)上發(fā)展的一種外差式干涉儀。和單頻激光干涉儀一樣，雙頻激光干涉儀也是一種以波長作為標(biāo)準(zhǔn)對被測長度進行度量的儀器，所不同者，一方面是當(dāng)可動棱鏡不動時，前者的干涉信號是介于**亮和**暗之間的某個直流光平，而后者的干涉信號是一個頻率約為1.5MHz的交流信號；張家港本地雙頻激光干涉儀哪家好法布里-干涉儀：由查爾斯·法布里和阿爾弗雷德·佩羅發(fā)明，主要用于高精度的光譜分析。

基于菲索干涉儀的等厚干涉原理設(shè)計，通過對比被測平面與標(biāo)準(zhǔn)參照鏡的干涉條紋變化，實現(xiàn)光學(xué)元件表面形狀誤差和材料均勻性的非接觸式測量 [1] [3-4]。標(biāo)準(zhǔn)參照鏡面形精度通常達到p-v:λ/20 [3-4]。測量口徑：Φ60mm（典型型號） [3-4]對準(zhǔn)方式：兩點對準(zhǔn)系統(tǒng) [3-4]結(jié)構(gòu)特性：小型化設(shè)計、防塵性能優(yōu)異 [3-4]精度范圍：根據(jù)型號不同覆蓋1/10-1/100波長梯度 [11.光學(xué)制造：檢測平面鏡、棱鏡等光學(xué)元件表面面型2.質(zhì)量檢測：評估光學(xué)材料均勻性與透鏡波前像差 [1]3.科研實驗：實驗室環(huán)境下進行精密光學(xué)計量分析

雙頻激光干涉儀是一種利用兩種不同頻率的激光光源進行干涉測量的儀器。它通常用于高精度的位移、振動、形變等物理量的測量。雙頻激光干涉儀的工作原理基于光的干涉現(xiàn)象，即當(dāng)兩束相干光相遇時，會產(chǎn)生干涉條紋，條紋的變化可以用來精確測量物體的位移或其他物理量。主要特點和應(yīng)用：高精度：雙頻激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級別的測量精度，適用于微小位移的檢測?？垢蓴_能力強：由于使用了兩種不同頻率的激光，干涉儀對環(huán)境噪聲和振動的抗干擾能力較強。它通過將光束分成兩部分，分別經(jīng)過不同的路徑后再合并，形成干涉圖樣。

激光干涉儀具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域，包括但不限于：科學(xué)研究：用于檢測引力波、測量微小位移和振動等。工業(yè)制造：用于精密機械加工、質(zhì)量控制和機床校準(zhǔn)等。在機床校準(zhǔn)中，激光干涉儀能夠測量機床的線性定位誤差、直線度誤差、偏擺角、俯仰角和滾動角等，以及速度、加速度、振動等參數(shù)，并評估機床的動態(tài)特性。計量學(xué)：用于長度標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)。通信：用于光纖傳感和信號處理。四、主要特點高精度：激光干涉儀能夠?qū)崿F(xiàn)亞納米級的測量精度，非常適合各種高精度測量應(yīng)用。通過分析干涉條紋的變化，可以得到被測物體的位移信息。相城區(qū)定制雙頻激光干涉儀產(chǎn)品介紹

其原因在于它是一種直流測量系統(tǒng)，必然具有直流光平和電平零漂的弊端。太倉購買雙頻激光干涉儀性價比

這路光束和由固定反射鏡反射回來*含有f1的光的光束經(jīng)偏振片2后會合成為f1-（f2±Δf）的測量光束。測量光束和上述參考光束經(jīng)各自的光電轉(zhuǎn)換元件、放大器、整形器后進入減法器相減,輸出成為*含有±Δf的電脈沖信號。經(jīng)可逆計數(shù)器計數(shù)后，由電子計算機進行當(dāng)量換算（乘 1/2激光波長）后即可得出可動反射鏡的位移量。雙頻激光干涉儀是應(yīng)用頻率變化來測量位移的，這種位移信息載于f1和f2的頻差上，對由光強變化引起的直流電平變化不敏感，所以抗干擾能力強。它常用于檢定測長機、三坐標(biāo)測量機、光刻機和加工中心等的坐標(biāo)精度，也可用作測長機、高精度三坐標(biāo)測量機等的測量系統(tǒng)。利用相應(yīng)附件，還可進行高精度直線度測量、平面度測量和小角度測量。太倉購買雙頻激光干涉儀性價比

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