致晟光電熱紅外顯微鏡采用高性能 InSb（銦銻）探測器，用于中波紅外波段（3–5 μm）熱輻射信號的高精度捕捉。InSb 材料具備優(yōu)異的光電...
在電性失效分析領(lǐng)域，微光顯微鏡 EMMI 常用于檢測擊穿通道、漏電路徑以及器件早期退化區(qū)域。芯片在高壓或大電流應(yīng)力下運(yùn)行時(shí)，這些缺陷部位會(huì)產(chǎn)...
在芯片失效分析的流程中，失效背景調(diào)查相當(dāng)于提前設(shè)置好的“導(dǎo)航系統(tǒng)”，它能夠?yàn)榉治鋈藛T提供清晰的方向，幫助快速掌握樣品的整體情況，為后續(xù)環(huán)...
在致晟光電的微光顯微鏡系統(tǒng)中，光發(fā)射顯微技術(shù)憑借優(yōu)化設(shè)計(jì)的光學(xué)系統(tǒng)與制冷型 InGaAs 探測器，能夠捕捉低至皮瓦（pW）級別的微弱光子信號...
蘇州致晟光電科技有限公司作為光電技術(shù)領(lǐng)域創(chuàng)新先鋒，依托南京理工大學(xué)–光電技術(shù)學(xué)院的科研優(yōu)勢，構(gòu)建產(chǎn)學(xué)研深度融合的技術(shù)研發(fā)體系。我司專注于微弱信號處理技術(shù)深度開發(fā)與場景化應(yīng)用，已成功推出多系列光電檢測設(shè)備及智能化解決方案。 致晟光電秉承著以用戶的實(shí)際需求為錨點(diǎn)，將研發(fā)與需求緊密結(jié)合，致力于為客戶創(chuàng)造實(shí)用、易用且高附加值的產(chǎn)品。我司通過自主創(chuàng)新，追求用戶體驗(yàn)，為企業(yè)提供從生產(chǎn)線到實(shí)驗(yàn)室完備的失效分析解決方案。
