上海垂智供應(yīng)鏈科技有限公司2025-08-30
TN220 雙光測(cè)溫卡片熱像儀的測(cè)溫原理基于物體的紅外輻射特性。其**是利用斯特藩 — 玻爾茲曼定律,即物體表面溫度越高,其表面自然輻射的紅外輻射也越強(qiáng)。
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