射頻抗干擾(Desense)近場(chǎng)電磁掃描診斷分析：可視化EMC(電磁兼容)近場(chǎng)掃描診斷分析系統(tǒng)使用電場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)、高低頻磁場(chǎng)近場(chǎng)探頭(H-Probe)套裝，支持0.01mm分辨率步進(jìn)電磁掃描，能快速有效的預(yù)防、解決接收感度惡化（DegradationofSensitivity）問(wèn)題，使得產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)化設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足研發(fā)級(jí)正向設(shè)計(jì)、整機(jī)、板級(jí)、芯片的射頻抗干擾Desense問(wèn)題自動(dòng)診斷分析，普遍用于2/3/4/5G手機(jī)、藍(lán)牙、WiFi、物聯(lián)網(wǎng)無(wú)線(xiàn)終端模塊等行業(yè)，在電磁兼容可靠性正向研發(fā)、射頻抗干擾源頭定位、器件選型射頻抗干擾評(píng)估、更新方案設(shè)計(jì)的射頻抗干擾性能評(píng)估、天線(xiàn)仿真驗(yàn)證等方面。（DC-9G）包括4個(gè)磁場(chǎng)探頭和1個(gè)電場(chǎng)探頭，所有探頭均覆蓋絕緣層。上海手機(jī)無(wú)線(xiàn)性能系統(tǒng)價(jià)格

可視化ESD抗擾度診斷分析系統(tǒng)—ES26-ESD整體介紹：電子產(chǎn)品在做ESD抗擾度測(cè)試時(shí)，一般會(huì)出現(xiàn)硬損壞和軟失效兩類(lèi)故障現(xiàn)象，對(duì)于硬損壞類(lèi)的故障，需要找到損壞位置、分析干擾傳遞的路徑，并在合適的位置增加或提升防護(hù)能力。對(duì)于軟失效類(lèi)的故 障，比較大的難點(diǎn)在干擾范圍大，干擾路徑復(fù)雜，無(wú)法準(zhǔn)確的定位敏感源?？梢暬疎SD抗擾度診斷分析系統(tǒng)，按照IEC 61000-4-2 ESD抗擾度 標(biāo)準(zhǔn)，通過(guò)自動(dòng)控制系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)，用耦合探頭對(duì)待測(cè)物精細(xì)的施加干擾，測(cè)試過(guò)程中，外面監(jiān)測(cè)設(shè)備示波器、綜測(cè)儀等可實(shí)時(shí)的測(cè)量產(chǎn)品受擾后的性能異常，通過(guò)測(cè)試軟件可實(shí)時(shí)記錄靜電干擾的量級(jí)和產(chǎn)品的性能指標(biāo)，當(dāng)性能下降到預(yù)設(shè)的失效門(mén)限，對(duì)應(yīng)的干擾等級(jí)和位置就是PCB板上較為敏感的部位。方便的進(jìn)行受擾源頭、抗擾度分析，快速的給出產(chǎn)品級(jí)解決方案。成都消費(fèi)電子無(wú)線(xiàn)性能抑制方式以焦斑為中心，落在其前后半個(gè)瑞利長(zhǎng)度范圍外的光場(chǎng)為近場(chǎng)，否則稱(chēng)為遠(yuǎn)場(chǎng)。

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13產(chǎn)品特點(diǎn)：【便捷化】系統(tǒng)相較于標(biāo)準(zhǔn)輻射雜散測(cè)試實(shí)驗(yàn)室及預(yù)測(cè)試系統(tǒng)，體積更小，搬運(yùn)更方便;【測(cè)試快】?jī)?nèi)置16個(gè)接收天線(xiàn)，省去轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)間，600MHz-13GHz測(cè)試時(shí)間只需幾秒鐘，更適用于產(chǎn)線(xiàn)快速抽檢及研發(fā)階段的摸底測(cè)試；【系統(tǒng)搭建簡(jiǎn)單】配套的濾波器組，內(nèi)置放大器及切換控制單元小型化封裝于一體，測(cè)試系統(tǒng)搭建容易；【多方位天線(xiàn)布置】可準(zhǔn)確識(shí)別雜散輻射源的方向和位置，并且實(shí)時(shí)呈現(xiàn)結(jié)果，方便進(jìn)行樣品的“敲擊”測(cè)試，電連接性能測(cè)試及問(wèn)題分析定位。

輻射雜散快速測(cè)試系統(tǒng)— TS13系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：■自帶無(wú)線(xiàn)多制式測(cè)量濾波器開(kāi)關(guān)陣列單元，自動(dòng)控制，頻率覆蓋600MHz-13GHz;■覆蓋無(wú)線(xiàn)產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)階段RSE快速預(yù)驗(yàn)證測(cè)試需求；■多測(cè)量天線(xiàn)布局設(shè)計(jì)，一次性高效方方面面的比較大RSE干擾掃描，3分鐘即可完成一次全頻段測(cè)量；■內(nèi)置20cm高度高性能吸波材料，有效減少空間駐波反射，保障測(cè)量結(jié)果重復(fù)性；■帶波導(dǎo)孔設(shè)計(jì)，便于產(chǎn)品測(cè)試時(shí)內(nèi)外連通實(shí)現(xiàn)典型通訊組網(wǎng)。了解更多，歡迎來(lái)電咨詢(xún)，我們真誠(chéng)期待與您溝通。瞭解了這一點(diǎn)，要做的就是把信號(hào)回路的阻抗降下來(lái)。

輻射近場(chǎng)測(cè)量需要解決的問(wèn)題：（1）考慮探頭與被測(cè)天線(xiàn)多次散射耦合的理論公式：在前述的理論中，所有的理論公式都是在忽略多次散射耦合條件下而得出的，這些公式對(duì)常規(guī)天線(xiàn)的測(cè)量有一定的精度，但對(duì)低副瓣或很低副瓣天線(xiàn)測(cè)量就必需考慮這些因素，因此，需要建立嚴(yán)格的耦合方程。（2）近場(chǎng)測(cè)量對(duì)天線(xiàn)口徑場(chǎng)診斷的精度和速度：近場(chǎng)測(cè)量對(duì)常規(guī)陣列天線(xiàn)口徑場(chǎng)的診斷有較好的診斷精度，但對(duì)于很低副瓣天線(xiàn)陣列而言，診斷精度和速度還需要進(jìn)一步研究。（3）輻射近場(chǎng)掃頻測(cè)量的研究：就一般情況而言，天線(xiàn)都在一個(gè)頻帶內(nèi)工作，因此，各項(xiàng)電指標(biāo)都是頻率的函數(shù)，為了快速獲得各個(gè)頻率點(diǎn)的電指標(biāo)，就需要進(jìn)行掃頻測(cè)量。掃頻測(cè)量的理論與點(diǎn)頻的理論完全一樣，只是在探頭掃描時(shí)，收發(fā)測(cè)量系統(tǒng)作掃頻測(cè)量。只要是本身溫度大于一定零度的物體，都可以發(fā)射電磁輻射，而世界上并不存在溫度等于或低于一定零度的物體。廣東TIS無(wú)線(xiàn)性能儀器

掃描儀和近場(chǎng)探頭系列（從SX到LF）的組合可以在元件組上方沿三個(gè)軸運(yùn)動(dòng)。上海手機(jī)無(wú)線(xiàn)性能系統(tǒng)價(jià)格

EMI分析整改是工程師在設(shè)計(jì)中不可回避的問(wèn)題：一次性很難通過(guò)昂貴的EMI一致性測(cè)試；難以捕獲偶發(fā)的EMI突發(fā)信號(hào)；需要擁有較長(zhǎng)儀器采集時(shí)間的實(shí)時(shí)頻譜分析儀才可能捕獲EMI突發(fā)信號(hào)；大多數(shù)頻譜分析儀不是實(shí)時(shí)頻譜分析儀；EMI調(diào)試中很難找到噪聲來(lái)源；截短PCB線(xiàn)路，然后重連，才有可能找到噪聲來(lái)源；很難找到導(dǎo)致EMI的模擬信號(hào)和/或數(shù)字信號(hào)。遇到傳導(dǎo)測(cè)試超標(biāo)問(wèn)題，第一步要做的，通常是定位噪聲分量主要是差模還是共模，通常的測(cè)試設(shè)備可以用來(lái)區(qū)分差共模分量，但個(gè)人覺(jué)得太麻煩，并且測(cè)試出來(lái)的是相對(duì)值，并不一定可以具備指導(dǎo)意義。簡(jiǎn)單的辦法是，在輸入端口并聯(lián)一個(gè)X電容，幾十nF到幾百nF，如果所關(guān)心的頻段測(cè)試通過(guò)了，就說(shuō)明噪聲的干擾主要是差模干擾，或者更準(zhǔn)確地說(shuō)，通過(guò)壓低差模分量，就一定能夠搞定問(wèn)題。在EMI測(cè)試中，信號(hào)線(xiàn)對(duì)于電磁噪聲來(lái)說(shuō)是一個(gè)很好的耦合傳播途徑。上海手機(jī)無(wú)線(xiàn)性能系統(tǒng)價(jià)格

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